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Japan National Committee for Standardization of Surface Chemical Analysis （ JSCA ）
2024年度 JSCA国際標準化セミナー開催
令和7年3月4日(火）14:00～
プログラム：
14:00 開会挨拶 藤田大介（JSCA）
14:05 「共通問題WGにおける国際標準化の概要と進展状況」
柳内克昭（早稲田大学）
14:25 「AFMを用いた弾性率測定法のISO標準化活動について」
中嶋 健（東京科学大学）
14:45 「EBSD技術の活用と国際標準化」
釜谷昌幸 (株）原子力安全システム研究所
15:05 「Derivative（DR）法による像シャープネス評価法の標準化」
小瀬洋一（株式会社日立ハイテク）
15:25 特別講演「分析電子顕微鏡における国際標準化の歩みと国際幹事の役割」
鍛示和利（株式会社日立ハイテク）
16:05 閉会挨拶 野中秀彦 (筑波大学）
※参加費無料 お申込みはJSCA事務局まで(teams URLをお送りさせていただきます)
一般社団法人表面化学分析技術国際標準化委員会 (JSCA) は、ISO/TC 201 (表面化学分析：Surface Chemical Analysis)とTC 202 (マイクロビームアナリシス：Microbeam analysis) に対応するJISC (日本産業標準調査会) の国内審議団体です。JSCAは企業・団体会員からの会費、経済産業省からの委託費等により運営されています。 国研、アカデミア、産業界の表面化学分析・マイクロビーム分析分野の研究者・技術者が標準化に関する諸事業に参画しています。JSCAは、ISOにおける国際標準化のみならず、ISO規格に対応するJIS (日本産業規格) 原案の作成、ISO規格やJISの普及活動、さらに標準化人材の育成を行っています。
◆お知らせ
2025.3.3 ― The ISO Excellence Award 受賞 ―
2024年11月、ISO/TC 201 総会にて当委員会の藤田大介 代表が The ISO Excellence Award を受賞しました。
2024. 5.14
2024年6月5日開催の「ラマン実践講座 HORIBA Raman School 2024」（ 堀場製作所主催 ） におきまして当委員会メンバー伊藤信靖先生（産業技術総合研究所）がラマン分光法の国際標準化についてご講演されます。皆様、是非ご参加ください。 ー 終了しました ー
招待講演「ラマン分光装置にまつわる標準化の動向」 講師：国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター 物質計測標準研究部門 有機基準物質研究グループ/有機組成標準研究グループ（兼務） 伊藤 信靖 先生
今日では、用途に応じた様々な性能のラマン分光装置が使われており、装置や測定者によって評価結果が異なることも少なくない。このような状況を改善するため、ラマン分光装置を用いた評価法等の標準化が進められている。本公演では、ラマン分光装置にまつわる国際的な標準化の動向について紹介する。
2024. 1.24
2023年度 JSCA国際標準化セミナー 開催 2024.01.19 ー 終了しました ー
【特 別 講 演】
―計測分析機器の共通データフォーマットの活用展望― 永富 隆清 先生（旭化成株式会社 基盤技術研究所 ）
計測分析機器の共通データフォーマットは，将来の計測分析プラットフォームのための基盤技術として，日本学術振興会「イノベーション創出に向けた計測分析プラットフォーム戦略の構築」に関する研究開発専門委員会での提案から始まった．その後，新エネルギー・産業技術総合開発機構のプロジェクト等で共通データフォーマットの開発が進むのと並行して，2018年からは日本学術振興会産学協力研究委員会「計測分析プラットフォーム第193委員会」にて，共通データフォーマットの活用に関する議論を行ってきた．本講演では素材産業界の視点での共通データフォーマットの活用展望について述べる．
2024.1.10 ― The ISO Excellence Award 受賞 ― 2023年11月、ISO/TC 202 総会にて当委員会メンバーの坪川純之氏(㈱コベルコ科研）と 釜谷昌幸氏（㈱原子力安全システム研究所）が The ISO Excellence Award を受賞しました。 詳細はこちら
2023.12. 20 ― TC 201/SC 9 : SPM-WG 開催 ― 2023.12/1
JSCA走査型プローブ顕微鏡 WGが Shimadzu Tokyo Innovation Plaza
にて開催されました 詳細はこちら
2023.4.13 ― VAMAS Sustained Achievement Award を 藤田大介JSCA 代表理事が受賞 ― 2023年3月14日、VAMAS（新材料及び標準に関するベルサイユプロジェクト）議長より、藤田大介JSCA代表理事（物質・材料研究機構（NIMS）経営企画部門TIA推進室長、NIMS国際標準化委員会委員長、VAMAS日本代表) が2022年度VAMAS Sustained Achievement Award（持続的貢献賞）を受賞しました。 詳細はこちら
2023.2.20 ー本日、JIS K 0164（表面化学分析 － 二次イオン質量分析法 － シリコン内のボロンの深さ方向分布測定方法） が発行されました 詳細はこちら
2023.2.20 ー本日、JIS K 0143（表面化学分析 － 二次イオン質量分析法－シリコン中に均一に添加されたボロンの原子濃度の定量方法） が発行されましたー 詳細はこちら
2023. 2.15
2022年度 JSCA国際標準化セミナー 開催 2023.02.10 ー 終了しました ー
【特 別 講 演】
― 電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み ー
田沼 繁夫先生（物質・材料研究機構 統合型材料開発・情報基盤部門）
AESやXPSに代表される表面電子分光法における定量化は, 1982年のVAMAS プロジェクト TWA-2 SCAの設立と1991年のISO TC201SCAの設立が２つの大きな転換点といえる。前者では，個々人の定量研究から国際共同研究を通して，定量の信頼性や正確性・遡及性が議論された。その発展として，ISOを通しての「定量化の標準化」がなされてきた。この定量化と標準化（の一断面）を, XPSとAESにおける「感度係数法」の進展を通して考えてみたい。この２つのプロジェクトがなければ「表面定量」はあっても「表面定量の標準化」は無かったであろう。 詳細はこちら
2022.11.02 ー令和4年度産業標準化事業表彰(主催: 経済産業省)を受賞しましたー
当委員会、藤田大介代表理事（国立研究開発法人 物質・材料研究機構経営企画部門 TIA 推進室 室長）が令和4年度産業標準化事業表彰・産業技術環境局長表彰(主催: 経済産業省)を受賞しました。 詳細はこちら
2022.09.29 - 講演動画を公開しました -
当委員会では表面化学分野での国際標準化に関する活動報告・研究成果などの講演会を開催しています。2019年以降新型コロナウィルス感染拡大のため休止しておりましたJSCA国際標準化セミナーが、今年の2月9日にオンライン開催されました。当ホームページでは新たに講演動画のページを公開しましたので、ご覧ください。
◆行事カレンダー
< お問い合わせ > 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 事務局 〒305-0051 茨城県つくば市二の宮 1-2-3 ベルコムつくばビル 202号室 TEL：029 -893 -5371 FAX：029 -893 -5372 E-MAIL：jsca@jsca-jisc.org アクセス
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