2023.12.27　 2023年度 第2回 国内業務委員会(東京)が開催されました    2023.12.22    詳細はこちら

2023.12. 14　第30回 ISO/TC202 国際会議(ベルリン)が開催されました     2023.11.22～11.24    　        

2023.12. 14　第32回 ISO/TC201 国際会議(米国ワシントン州)が開催されました    2023.10.31～11.02   　　 詳細はこちら 

2023.9.21  " 2022年度JSCA国際標準化セミナー(2023/2/10)の講演動画が公開されました"

2023.6.22 　2023年度 第1回 社員総会(東京)が開催されました       2023.6.21      

2023.6.22　 2023年度 第1回 国内業務委員会(東京)が開催されました    2023.6.21    詳細はこちら

2023. 2.15  

 2022年度  JSCA国際標準化セミナー 開催      2023.02.10   ー  終了しました  ー

【特 別 講 演】　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

 ― 電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み ー

　田沼 繁夫先生（物質・材料研究機構　統合型材料開発・情報基盤部門）

　AESやXPSに代表される表面電子分光法における定量化は, 1982年のVAMAS プロジェクト TWA-2 SCAの設立と1991年のISO TC201SCAの設立が２つの大きな転換点といえる。前者では，個々人の定量研究から国際共同研究を通して，定量の信頼性や正確性・遡及性が議論された。その発展として，ISOを通しての「定量化の標準化」がなされてきた。この定量化と標準化（の一断面）を, XPSとAESにおける「感度係数法」の進展を通して考えてみたい。この２つのプロジェクトがなければ「表面定量」はあっても「表面定量の標準化」は無かったであろう。　　　　詳細はこちら　　　　　

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　            　　　昨年のJSCA国際標準化セミナーはこちら