2011年 ～2020年
2011年 ～2020年
著者名：Kazuhiro Kumagai, Akira Kurokawa
雑誌名：Microscopy
巻号 ：69
掲載 ：360-370
掲載年：2020
タイトル：原子間力顕微鏡～ソフトマテリアルのナノ力学物性解析～
Atomic Force Microscopy －Nanomechanical Properties Analysis on Soft Materials－
著者名：中嶋 健、関根 慧、茂木 楓、伊藤 万喜子、梁 暁斌
Ken Nakajima, Kei Sekine, Kaede Mogi, Makiko Ito and Xiaobin Liang
雑誌名：色材協会誌
巻 号 ：93(10)
掲 載 ：321-328
掲載年： 2020
タイトル：原子間力顕微鏡による高分子ナノ材料の力学的特性評価技術
著者名：中嶋 健、春野 颯、 沖永 祐樹、伊藤 万喜子、梁 暁斌
雑誌名：月刊トライボロジー
巻 号 ：2020.1
掲 載 ： 30-33
掲載年： 2020
タイトル：試料の取り扱いと試料前処理
著者名：荒木 祥和
雑誌名： Journal of Surface Analysis
巻 号 ：Vol. 25 No. 3 (2019)
掲 載 ： 202 - 208
掲載年： 2019
タイトル：二次イオン質量分析法（SIMS）を巡る国際標準化の動向
The Trend of the International Standardization on Secondary Ion Mass Spectrometry
著者名：高野 明雄 TAKANO Akio
雑誌名：表面と真空
巻 号 ：Vol. 61, No. 7
掲 載 ： 463-468
掲載年： 2018
タイトル：ナノ領域元素分析標準化補助事業報告書
第１章 本事業の実施の背景・目的・体制
第２章 ナノスケール材料の分析技術とその標準化
第３章 SEM像シャープネス評価用の標準物質の開発
著者名：熊谷 和博 他
掲載年：2018
タイトル： ISO セミナー’17 での質疑応答の紹介
『日常的な分析業務における JIS 並びに ISO 規格の利用－ 表面分析実用化セミナー '16 －』での質疑応答の紹介
著者名：永富 隆清
雑誌名：Surface and Interface Analysis
巻 号：Vol.24, No. 3
掲 載： 227-231
掲載年： 2018
タイトル： ISOセミナー’16 での質疑応答の紹介
『日常的な分析業務における JIS 並びに ISO 規格の利用－ 表面分析実用化セミナー '16 －』での質疑応答の紹介
著者名：永富 隆清
雑誌名：Surface and Interface Analysis
巻 号：Vol. 23, No. 3
掲 載：181-185
掲載年： 2017
タイトル：ナノ領域元素分析標準化補助事業報告書
第１章 本事業の実施の背景・目的・体制
第２章 ナノスケール材料の分析技術とその標準化
第３章 SEM像シャープネス評価用の標準物質の開発"
著者名：熊谷 和博 他
掲載年：2017
タイトル：国際標準の進歩
著者名：日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会編
雑誌名：マイクロビームアナリシス・ハンドブック
8.1 国際標準化概論 一村 信吾 606-608
8.2 表面化学分析法の国際標準化（ISO/TC201） 田沼 繁夫608-619
8.3 マイクロビーム分析法の国際標準化（ISO/TC202） 田中 幸基619-627
8.4 ナノテクノロジー関連の国際標準化（ISO/TC229を中心に） 一村 信吾628-636
掲載年： 2016年6月30日発行 株式会社オーム社
タイトル：SEMの像シャープネス評価法の国際標準化
著者名：佐藤 貢
雑誌名：日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 発表予稿集 16amA_I2-01
巻号 ：
掲載年： 2016
タイトル：[JRIA27 ナノ分析標準] ナノ領域元素分析標準化補助事業報告書
第１章 本事業の実施の背景・目的・体制
第２章 ナノスケール材料の分析技術とその標準化
第３章 SEM像シャープネス評価用の標準物質の開発
著者名：熊谷 和博 他
掲載年：2016
タイトル：ナノ材料計測のための走査電子顕微鏡法および関連標準物質に関する調査研究
著者名：熊谷 和博
雑誌名："産総研計量標準報告 (AIST Bulletin of Metrology)
巻号 ：9
掲載 ：293-309
掲載年：2015
著者名：Akio Takano, Hidehiko Nonaka, Yoshikazu Homma, Mitsuhiro Tomita, Atsushi Murase, Syunichi Hayashi, Mario Barozzi, Kyung Joon Kim, David Sykes, David Simons, Joe Bennett , Charles W. Magee
雑誌名：Surface and Interface Analysis
巻 号：Vol. 47
掲 載： 681-700
掲載年： 2015
タイトル：VAMAS round‐robin study to evaluate a correction method for saturation effects in D‐SIMS
著者名：Akio Takano, Hidehiko Nonaka, Yoshikazu Homma, Mitsuhiro Tomita, Atsushi Murase, Syunichi Hayashi, Mario Barozzi, Kyung Joon Kim, David Sykes, David Simons, Joe Bennett, Charles W. Magee
雑誌名：Surface and Interface Analysis
巻 号：Vol. 46
掲 載： 244-248
掲載年： 2014
タイトル：Nano-palpation AFM and its quantitative mechanical property mapping
著者名：Ken Nakajima, Makiko Ito, Dong Wang, Hao Liu, Hung Kim Nguyen, Xiaobin Liang, Akemi Kumagai, and So Fujinami
雑誌名：Microscopy
巻 号 ：63(3)
掲 載 ： 193–207
掲載年： 2014
タイトル：Analytical procedure for experimental quantification of carrier concentration in semiconductor devices by using electric scanning probe microscopy
著者名：Takaya Fujita, Koji Matsumura, Hiroshi Itoh and Daisuke Fujita
雑誌名：Measurement Science and Technology
巻 号 ：25
掲 載 ：044201
掲載年：2014
タイトル：表面化学分析における国際標準データフォーマットの概要とその利用
著者名：吉原 一紘
雑誌名：Journal of Surface Analysis
巻 号 ： 19 巻 3 号
掲 載 ： 170-176
掲載年： 2013
タイトル：Standardization of Data Transfer Format for Scanning Probe Microscopy
著者名：Daisuke Fujita
雑誌名：Journal of Surface Analysis
巻 号 ： 19 巻 3 号
掲 載 ： 188-194
掲載年： 2013
タイトル：原子間力顕微鏡によるソフトマテリアルの弾性率定量評価法の開発
Development of Quantitative Evaluation Method for Elastic Modulus of Soft-Materials by Atomic Force Microscopy
著者名：中嶋 健、劉 浩、伊藤 万喜子、藤波 想
Ken NAKAJIMA , Hao LIU, Makiko ITO and So FUJINAMI
雑誌名： Journal of the Vacuum Society of Japan
巻 号 ：56(7)
掲 載 ： 258-266
掲載年： 2013
タイトル：SPM標準化：ISO TC201 SC9での標準化活動について
Standardization of Scanning Probe Microscopy : Activities of ISO TC201 SC9
著者名：藤田 大介 FUJITA Daisuke
雑誌名：精密工学会誌
巻 号 ：79(3)
掲 載 ： 213-217
掲載年： 2013
タイトル：産業応用のための計測・評価に関するナノテクノロジー標準と標準化活動の現状
Current Standardization Activities of Measurement and Characterization for Industrial Applications
著者名：一村 信吾 ICHIMURA Shingo、野中 秀彦 NONAKA Hidehiko
雑誌名：Nanotechnology Standards (Eds. Vladimir Murashov and John Howard, Springer-Verlag New York)
巻 号 ：Chapter 6
掲 載 ：117-164
掲載年：2011
タイトル： SEMの像シャープネスとその評価法の国際標準化
著者名：佐藤 貢
雑誌名：日本顕微鏡学会第67回学術講演会
巻号 ：
掲載 ：
掲載年： 2011
Japan National Committee for Standardization of Surface Chemical Analysis