電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み

田沼 繁夫 先生（物質・材料研究機構）

AESやXPSに代表される表面電子分光法における定量化は, 1982年のVAMAS プロジェクト TWA-2 SCAの設立と1991年のISO TC201SCAの設立が２つの大きな転換点といえる。前者では，個々人の定量研究から国際共同研究を通して，定量の信頼性や正確性・遡及性が議論された。その発展として，ISOを通しての「定量化の標準化」がなされてきた。この定量化と標準化（の一断面）を, XPSとAESにおける「感度係数法」の進展を通して考えてみたい。この２つのプロジェクトがなければ「表面定量」はあっても「表面定量の標準化」は無かったであろう。

アップロード日：2023/09/21（ 約50分 ）

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ISO/TC 201の国際標準化活動に携わって　－会議は踊る、そして進む

野中 秀彦 先生（筑波大学）

2006年よりISO/TC 201の活動に参加し、これまでに国際幹事（2009年～2014年）および国際議長（2015年～）として表面科学分析に関する国際標準化活動に携わってきた経験に基づいて、TC201の概要、沿革、年に１度開催される総会などを紹介します。国際幹事では、ISO中央事務局とのやりとりや文書の発行などのTCの事務業務を遂行し、国際議長では、総会の議長やメンバー国間の意見調整などのTCの取りまとめを行った際に感じた、楽しさ、苦労、やりがいなどの話を通じて、特にこれから国際標準化に関わる方などにTC201の活動の重要性と魅力が伝われば幸いです。

アップロード日：2023/09/21（ 約15分 ）

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AFMを用いた弾性率測定法のISO標準化活動について

中嶋 健 先生（東京工業大学）

本発表では、ISO21222としてISO文書化された「AFMを用いた弾性率測定法」について行ってきた活動の報告を行う。手法そのもの（JKR２点法）についてもある程度説明を行う。その際、ISO化に先駆けて行ったVAMASでのラウンドロビンテストで得た経験などについても報告する。さらには、ISO21222の見直しがなされる数年後を見据え、現在のJKR２点法を上位互換できる方法について、現在開始したVAMASの活動についても最新の情報を発信する予定である。

アップロード日：2023/09/21（ 約21分 ）

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TC202を題材とした国際標準化活動における「用語」規格の位置づけ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　杉山 昌章 先生（大阪大学大学院）

ISO/TC202（マイクロビームアナリシス）の国際標準化は、1991年に中国初のISO幹事国として活動が開始された経緯を持つ。標準化対象は入射ビームとして電子を用い、分析深さが10μｍ以下で、分析面積が100μｍ２以下の分析対象容積を基本としている。各TCには、必ずTerminology(用語)というサブコミッティ（SC）があり、その一般性から公開型の規格開発を進めている。学術分野でも企業戦略でも重要な用語の標準化について紹介する。

アップロード日：2023/09/21（ 約20分 ）

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ISO/TC 202/SC 3 分析電子顕微鏡の国際標準化

松下 光英 先生（日本電子株式会社）

ISO/TC 202/SC 3は分析電子顕微鏡（AEM）に関する国際標準を審議する分科委員会で，8か国のPメンバー，10か国のOメンバーから構成され，日本はPメンバーかつ幹事国である。令和5年1月1日現在，6つのAEM関連の国際規格が発行されており，そのうち4つは日本から提案されたものである。これまで発行された規格は，分析電子顕微鏡の観察法，分析法に関するものであったが，令和3年度から，FIBによるAEM観察用試料作製のガイドラインを日本が提案国となり，経産省の産業標準化推進事業の枠組みを用いて開発を行っている。本講演ではAEMに関する開発中を含む国際規格の概要と，最近の規格への提案動向について述べる。

アップロード日：2023/09/21（ 約25分 ）

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