当委員会、藤田大介代表理事（国立研究開発法人 物質・材料研究機構経営企画部門 TIA 推進室 室長）が令和4年度産業標準化事業表彰・産業技術環境局長表彰を受賞しました。産業標準化事業表彰は、国際標準化機構（ISO）や国際電気標準会議（IEC）における国際標準策定、国内規格（JIS）策定や適合性評価活動といった産業標準化推進活動に優れた功績を残された方に対し経済産業省が表彰するものです。表彰式は令和4年10月24日に東京都の都市センターホテルにて行われ、ライブ配信されました。 

〈　受賞理由　〉

　長年にわたり産業界のニーズが高い材料/デバイスのナノ表面化学分析法に関する ISO 並びにVAMAS(新材料及び標準に関するベルサイユプロジェクト)における国際標準化活動を主導。SPM(走査型プローブ顕微鏡)ナノ表面分析に関する標準化実績としては、プロジェクトリーダーとして発行した ISO 規格(IS)1 件、進行中(FDIS)1 件、国内規格としては JIS 規格 2 件である。ISO/TC201(表面化学分析)日本代表として表面化学分析の国際標準化全般を主導しつつ、VAMAS 日本代表として新材料のプレ標準化国際共同研究スキームの運営に貢献。表面ナノ分析技術の社会への普及を促進し、半導体やエネルギー産業等の研究開発力の向上に貢献。