【受賞者】

坪川 純之氏 (㈱コベルコ科研）  ISO/TC 202/SC 3  マイクロビーム分析  分析電子顕微鏡のプロジェクトリーダー　(2022年）

【受賞理由】

ISO/TC 202/SC 3に対する18年間にわたる優れた貢献、特にISO24639:2022、　「マイクロビーム分析 － 分析電子顕微鏡 － 電子エネルギー損失分光法による元素分析用エネルギースケールの校正手順 」の規格作成への貢献が高く評価されました。

【受賞者】

釜谷 昌幸氏（ ㈱原子力安全システム研究所） ISO/TC 202/WG 9  　マイクロビーム分析  EBSDによる機械的損傷を評価するための方位差解析に関する指針の議長  　(2022年）

【受賞理由】

ISO/TC 202に対する4年間にわたる優れた貢献、特に電子後方散乱回折における材料破損の定量的評価手順を記述したISO 23703：2022、 「マイクロビーム分析 ー 電子後方散乱回折(EBSD)によるオーステナイト系ステンレス鋼の機械的損傷を評価するためのミスオリエンテーション分析に関する指針」の規格作成への貢献が高く評価されました。電子後方散乱回折は比較的新しい技術でありこの手法は物的損傷の評価に広く使用されていますが、共有するルールを規定した基準やガイドラインがないため異なる機関によって得られた結果を比較することは困難でした。